fireye離子探針69ND1-1000K4現(xiàn)貨銷(xiāo)售
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離子探針(IMA)的基本原理是，用高能負(fù)氧離子轟擊樣品表面，測(cè)定被飛濺活化出來(lái)并發(fā)生電離的原子（即離子）的同位素組成，以獲得年齡。為一種得到迅猛發(fā)展的新型質(zhì)譜計(jì)，它具有許多其他測(cè)年方法所沒(méi)有的優(yōu)點(diǎn)：不需要化學(xué)處理；具有高的分辨率，可同時(shí)獲得幾組年齡以確定被測(cè)對(duì)象同位素體系是否封閉，有無(wú)鉛丟失；可對(duì)樣品作微區(qū)（約20微米）分析而基本不破壞樣品，故可獲得礦物內(nèi)部年齡分布的精細(xì)結(jié)構(gòu)，這對(duì)了解具有復(fù)雜歷史礦物的形成過(guò)程及由此反映的地質(zhì)演化十分重要；測(cè)年對(duì)象的時(shí)代跨度很大，從不到100百萬(wàn)年到40億年以上，地球上幾乎所有最古老巖石和鋯石的準(zhǔn)確定年都是由這一方法完成的。所測(cè)礦物主要為、鈦鐵礦等含U、Th礦物的測(cè)年研究受到重視InSight探頭測(cè)量目標(biāo)火焰產(chǎn)生的調(diào)制振幅。在探頭的設(shè)定程序中，選擇產(chǎn)生佳火焰ON/OFF分辨率的頻率。并可手動(dòng)調(diào)節(jié)（S1型）或越過(guò)手動(dòng)調(diào)節(jié)進(jìn)行自動(dòng)調(diào)節(jié)合適的調(diào)制頻率和探頭增益（S2型）。
fireye離子探針69ND1-1000K4現(xiàn)貨銷(xiāo)售選定了火焰頻率后，輸入火焰繼電器的ON/OFF門(mén)檻值。在4－20mA的信號(hào)強(qiáng)度輸出中，最小值（4mA）代表信號(hào)強(qiáng)度為“0”，最大值（20mA）代表信號(hào)強(qiáng)度為“100”。
火焰繼電器   當(dāng)信號(hào)強(qiáng)度達(dá)到或已超過(guò)已設(shè)定的火焰“ON”的門(mén)檻值是被激勵(lì)得電（常開(kāi)觸點(diǎn)閉合），當(dāng)型號(hào)強(qiáng)度達(dá)到并低于已設(shè)定的火焰“OFF”門(mén)檻值時(shí)，繼電器失電（閉合觸點(diǎn)打開(kāi)）。當(dāng)供電中斷或檢測(cè)到內(nèi)部故障時(shí)，繼電器回路也會(huì)打開(kāi)。
故障繼電器   當(dāng)探頭正常供電（24vdc）和探頭內(nèi)部通過(guò)自己無(wú)誤時(shí)被激勵(lì)得電。當(dāng)供電中斷或內(nèi)部檢測(cè)到故障時(shí)失電。一個(gè)常開(kāi)觸點(diǎn)信號(hào)（來(lái)自故障繼電器）被串接到火焰繼電器的內(nèi)部，一個(gè)常閉觸點(diǎn)信號(hào)由于報(bào)警顯示。
Type95IR設(shè)有一個(gè)紅外火焰?zhèn)鞲衅鳎瑢?duì)紅外線波長(zhǎng)的相應(yīng)范圍是700到1700nm。此型號(hào)適用于燃料是煤和油的工況。
Type95UV設(shè)有一個(gè)紫外火焰?zhèn)鞲衅鳎瑢?duì)紫外線的波長(zhǎng)相應(yīng)范圍是295到320nm。此型號(hào)適用于燃料是氣的工況。
Type95DS同時(shí)設(shè)有以上所描述的紅外和紫外傳感器。此型號(hào)適用于多種燃料的工況。
標(biāo)準(zhǔn)型S1適用于不需要高分辨率或者不需要擴(kuò)展型S2所具有的遠(yuǎn)程通訊功能的多種場(chǎng)合。（例如單燃燒器鍋爐和工業(yè)爐等）擴(kuò)展型S2適用于需要有最高分辨率和最高靈活性(增加火焰頻率的選擇，省時(shí)自動(dòng)調(diào)節(jié)功能）和遠(yuǎn)程通訊能力的場(chǎng)合（例如大型多燃燒器鍋爐和工業(yè)爐）離子探針是用聚焦的一次離子束作為微探針轟擊樣品表面，測(cè)射出原子及分子的二次離子，在磁場(chǎng)中按質(zhì)荷比（m/e）分開(kāi)，可獲得材料微區(qū)質(zhì)譜圖譜及離子圖像，再通過(guò)分析計(jì)算求得元素的定性和定量信息。測(cè)試前對(duì)不同種類(lèi)的樣品須作不同制備，離子探針兼有電子探針、火花型質(zhì)譜儀的特點(diǎn)。可以探測(cè)電子探針顯微分析方法檢測(cè)極限以下的微量元素，研究其局部分布和偏析。可以作為同位素分析。可以分析極薄表面層和表面吸附物，表面分析時(shí)可以進(jìn)行縱向的濃度分析。成像離子探針適用于許多不同類(lèi)型的樣品分析，包括金屬樣品、半導(dǎo)體器件、非導(dǎo)體樣品，如高聚物和玻璃產(chǎn)品等。廣泛應(yīng)用于金屬、半導(dǎo)體、催化劑、表面、薄膜等領(lǐng)域中以及環(huán)保科學(xué)、空間科學(xué)和生物化學(xué)等研究部門(mén)。

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